Desarrollado por Digital Surf’s Mountains® plataforma tecnológica
Tras el reciente lanzamiento del microscopio de fuerza atómica Tosca™ 400, la empresa líder en fabricación de equipos científicos, Anton Paar, anuncia hoy el lanzamiento de tosca™ programa de analisisbasado en Digital Surf’s Mountains® tecnología de análisis de superficies.
Especialmente diseñado para usuarios industriales, el Tosca™ 400 viene con el software ToscaTM Control para operar el AFM. Añadir a eso nuevo tosca™ programa de analisis y los usuarios ahora tienen una solución completa para el análisis complejo de nanosuperficies en una amplia variedad de áreas de aplicación, incluida la caracterización de propiedades de semiconductores y la investigación de cadenas de polímeros.
Las características principales incluyen:
- Imágenes multicanal 3D en tiempo real con superposiciones
- Caracterización de la textura superficial usando los últimos parámetros 3D definidos en el estándar ISO 25178
- Análisis de geometría y morfología de última generación a nanoescalaincluyendo la altura de las vetas y los motivos, el volumen de las estructuras superficiales (protuberancias, agujeros), alturas de los escalones, etc.
- Potentes funciones de automatización para aplicaciones exigentes incluyendo dimensionamiento crítico y estadísticas
- Colocalización de datos de superficie de otros análisis para análisis correlativos por ejemplo, mapas químicos Raman
Disponible en 11 idiomas diferentes, Tosca™ El software de análisis viene con una interfaz de cinta fácil de usar y pestañas contextuales con herramientas intuitivas basadas en iconos.
El flujo de trabajo interactivo permite una trazabilidad metrológica completa y un fácil ajuste en cualquier momento.
Generar informes de análisis de superficie en formatos Excel, PDF y RTF compatibles con Word nunca ha sido tan fácil.
Además, las herramientas de automatización ayudan a acelerar la producción (por ejemplo, las rutinas de análisis se pueden guardar como plantillas y volver a aplicar a los lotes).
